Počet záznamů: 1
Scanning Electron Microscopy with biased samples
- 1.Frank, L., Konvalina, I., Mikmeková, Š. Scanning Electron Microscopy with biased samples. In: EM2014. 15th International Conference on Electron Microscopy. Kraków: Wydawnictwo Naukove Akapit, 2014, s. 76-77. ISBN 978-83-63663-48-3.
Počet záznamů: 1