Počet záznamů: 1
20th National Electron Microscopy Congress
- 1.
SYSNO 0372232 Název 20th National Electron Microscopy Congress Vyd. údaje Istanbul: Turkish Society for Electron Microscopy, 2011 Druh dok. BXXS Země vyd. TR Katal.org. CAV Odkazy (1) - Abstrakt
Počet záznamů: 1