Počet záznamů: 1
Characterization of polymeric films by ellipsometry
- 1.0185043 - UJF-V 20000213 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Švorčík, V. - Tichá, H. - Rybka, V. - Hnatowicz, Vladimír
Characterization of polymeric films by ellipsometry.
Journal of Materials Science Letters. Roč. 19, - (2000), s. 679-681. ISSN 0261-8028
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 0.496, rok: 2000
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0081465
Počet záznamů: 1