Počet záznamů: 1  

Characterization of polymeric films by ellipsometry

  1. 1.
    0185043 - UJF-V 20000213 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Švorčík, V. - Tichá, H. - Rybka, V. - Hnatowicz, Vladimír
    Characterization of polymeric films by ellipsometry.
    Journal of Materials Science Letters. Roč. 19, - (2000), s. 679-681. ISSN 0261-8028
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901
    Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    Impakt faktor: 0.496, rok: 2000
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0081465
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.