Počet záznamů: 1
Total electron emission from metals due to the impact of highly-charged Xe ioms with energies up to MeV
- 1.
SYSNO 0134102 Název Total electron emission from metals due to the impact of highly-charged Xe ioms with energies up to MeV Tvůrce(i) Láska, Leoš (FZU-D)
Krása, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Stöckli, M. P. (US)
Fehrenbach, C. W. (US)Zdroj.dok. Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 51, č. 8 (2001), s. 791-797. - : Springer Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant IAA1010819 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova corpuscular diagnostic * multiply charged ions * secondary electron emission Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0000653
Počet záznamů: 1