Počet záznamů: 1  

Total electron emission from metals due to the impact of highly-charged Xe ioms with energies up to MeV

  1. 1.
    SYSNO0134102
    NázevTotal electron emission from metals due to the impact of highly-charged Xe ioms with energies up to MeV
    Tvůrce(i) Láska, Leoš (FZU-D)
    Krása, Josef (FZU-D) RID, ORCID
    Stöckli, M. P. (US)
    Fehrenbach, C. W. (US)
    Zdroj.dok. Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 51, č. 8 (2001), s. 791-797. - : Springer
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant IAA1010819 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z1010921 - FZU-D
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.CZ
    Klíč.slova corpuscular diagnostic * multiply charged ions * secondary electron emission
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0000653
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.