Počet záznamů: 1
Profilometrie pomocí interference bílého světla
- 1.
SYSNO 0133767 Název Profilometrie pomocí interference bílého světla Překlad názvu Profilometry by means of white light interference Tvůrce(i) Pavlíček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI Zdroj.dok. Inženýrská mechanika 2002. s. x / Houfek L. ; - Hlavoň P. ; - Krejčí P.. - Brno : Institute of Mechanics of Solids, Faculty of Mechanical Enginnering Brno, University of Technology Brno, 2002 ISBN 80-214-2109-6 Konference Inženýrská mechanika 2002, Svratka, 13.05.2002-16.05.2002 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Jazyk dok. cze Země vyd. CZ Klíč.slova profilometry * interference * white-light * height profile * rough surface Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0031725
Počet záznamů: 1