Počet záznamů: 1  

Profilometrie pomocí interference bílého světla

  1. 1.
    SYSNO0133767
    NázevProfilometrie pomocí interference bílého světla
    Překlad názvuProfilometry by means of white light interference
    Tvůrce(i) Pavlíček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok. Inženýrská mechanika 2002. s. x / Houfek L. ; - Hlavoň P. ; - Krejčí P.. - Brno : Institute of Mechanics of Solids, Faculty of Mechanical Enginnering Brno, University of Technology Brno, 2002
    ISBN80-214-2109-6
    Konference Inženýrská mechanika 2002, Svratka, 13.05.2002-16.05.2002
    Druh dok.Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grant LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    CEZAV0Z1010921 - FZU-D
    Jazyk dok.cze
    Země vyd.CZ
    Klíč.slova profilometry * interference * white-light * height profile * rough surface
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0031725
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.