Počet záznamů: 1  

Composition, structure, microhardness and residual stress of W-Ti-N films deposited by reactive magnetron sputtering

  1. 1.
    SHAGINYAN, L. R., MIŠINA, Martin, ZEMEK, Josef, MUSIL, Jindřich, REGENT, F., BRITUN, V. F. Composition, structure, microhardness and residual stress of W-Ti-N films deposited by reactive magnetron sputtering. Thin Solid Films. 2002, 408(-), 136-147. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.