Počet záznamů: 1
Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films
- 1.Deineka, A., Jastrabík, L., Suchaneck, G., Gerlach, G. Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films. Physica Status Solidi A. 2001, 188(4), 1549-1552. ISSN 0031-8965.
Počet záznamů: 1