Počet záznamů: 1
Ellipsometry non-destructive technique for PZT thin films investigations
- 1.
SYSNO 0133333 Title Ellipsometry non-destructive technique for PZT thin films investigations Author(s) Deineka, Alexander (FZU-D)
Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
Soukup, Ladislav (FZU-D)Source Title Jemná mechanika a optika. 11-12, - (2000), s. 329-331. - : Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Document Type Článek v odborném periodiku Grant LN00A015 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS) CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Language eng Country CZ Keywords PZT * J.A. Wollam spectral ellipsometer * refractive index depth profiels Permanent Link http://hdl.handle.net/11104/0031308
Počet záznamů: 1