Počet záznamů: 1
Restortion and processing of physical profiles from measured data
- 1.
SYSNO ASEP 0133126 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Restortion and processing of physical profiles from measured data Tvůrce(i) Čerňanský, Marian (FZU-D) RID Zdroj.dok. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction / Snyder R.L. ; Fiala J. ; Bunge H.J.. - New York : Int. Union of Crystallography, Oxford University Press, 1999 - ISBN 019-850-1897 Rozsah stran s. 613-646 Poč.str. 33 s. Akce Saiz strain "95"-X-Ray Powder Diffusion Analysis of Real Structure of Mater International Conference Datum konání 21.08.1995-25.08.1995 Místo konání Liptovský Mikuláš Země SR - Surinam Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA202/96/1685 GA ČR - Grantová agentura ČR Anotace State of the art evolution techniques for restorting (deconvolution of) physical patterns from the measured diffraction profiles, background subtraction, smoothing and interpolation, Fourier techniques, iterative solutions of integral equations, inverse filtering, regularisation and maximum entropy methods, maximum likelihood and Bayesian methods are discussed in detail. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2001
Počet záznamů: 1