Počet záznamů: 1
Surface diffusion of AU on Si(111): a microscopy study
- 1.
SYSNO ASEP 0132899 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Surface diffusion of AU on Si(111): a microscopy study Tvůrce(i) Slezák, Jiří (FZU-D)
Ondřejček, Michal (FZU-D)
Chvoj, Zdeněk (FZU-D)
Cháb, Vladimír (FZU-D) RID, ORCID
Conrad, H. (DE)
Heun, S. (IT)
Schmidt, T. (IT)
Ressel, B. (IT)
Prince, K. C. (IT)Zdroj.dok. Physical Review B - ISSN 1098-0121
Roč. 61, č. 23 (2000), s. 16121-16128Poč.str. 8 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP IAA1010718 GA AV ČR - Akademie věd GA202/99/P001 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Anotace The direct evolution of submonolayer two-dimensional Au phases on the Si(111)-(7X7) surface was studed in real time using the spectroscopic photoemission and low energy electron microscope located at the synchrotron radiation source ELETTRA. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2001
Počet záznamů: 1