Slezák, Jiří - Ondřejček, Michal - Chvoj, Zdeněk - Cháb, Vladimír - Conrad, H. - Heun, S. - Schmidt, T. - Ressel, B. - Prince, K. C.
Surface diffusion of AU on Si(111): a microscopy study.
Physical Review B. Roč. 61, č. 23 (2000), s. 16121-16128. ISSN 1098-0121. E-ISSN 2469-9969
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010718; GA ČR GA202/99/P001
Grant ostatní: Deutsche forschunggemeinschaft(DE) SFB 290; ERB(XE) FMBI-CT:96/1749; XE(XC) ERBIC 15 CT97 0700
Impakt faktor: 3.065, rok: 2000
http://hdl.handle.net/11104/0030894