Počet záznamů: 1
Local characterization of electronic transport in microcrystalline silicon thin films with submicron resolution
SYS 0132433 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20230418210330.6 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Local characterization of electronic transport in microcrystalline silicon thin films with submicron resolution 215 $a 3 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256166 $1 011 $a 0003-6951 $e 1077-3118 $1 200 1 $a Applied Physics Letters $v Roč. 74, - (1999), s. 1475-1477 $1 210 $c AIP Publishing 700 -1
$3 cav_un_auth*0100487 $a Rezek $b Bohuslav $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $a Stuchlík $b Jiří $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1