Počet záznamů: 1
The collection efficiency of the Everhart-Thornley detector of secondary electrons in SEM
- 1.
SYSNO 0109031 Název The collection efficiency of the Everhart-Thornley detector of secondary electrons in SEM Překlad názvu Sběrová účinnost Everhart-Thornley-ho detektoru sekundárních elektronů v REM Tvůrce(i) Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress, 1 - Instrumentation & Methodology.. s. 79-80. - Liege : Belgian Society for Microscopy, 2004 Konference EMC 2004 /13./ European Microscopy Congress, Antwerp, 22.08.2004-27.08.2004 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant IAA1065304 GA AV ČR - Akademie věd Jazyk dok. eng Země vyd. BE Klíč.slova scanning electron microscopy * collection efficiency * secondary electrons Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0016143
Počet záznamů: 1