Počet záznamů: 1
Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method
- 1.KINDER, R., SRNÁNEK, R., HULÉNYI, L., WALACHOVÁ, J., TLACZALA, M., SCIANA, B., RADZIEWICZ, D. Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method. Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. 2004, 55(9-10), 261-264. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X.
Počet záznamů: 1