- Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV…
Počet záznamů: 1  

Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method

  1. 1.
    KINDER, R., SRNÁNEK, R., HULÉNYI, L., WALACHOVÁ, J., TLACZALA, M., SCIANA, B., RADZIEWICZ, D. Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method. Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. 2004, 55(9-10), 261-264. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.