Počet záznamů: 1
Characterization of InP epitaxial layers for use in radiation detection
- 1.ZAVADIL, Jiří, ŽĎÁNSKÝ, Karel, PROCHÁZKOVÁ, Olga, KOZAK, Halina. Characterization of InP epitaxial layers for use in radiation detection. In: OSVALD, J., HAŠČÍK, Š., eds. ASDAM'2004. Proceedings of the Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. Piscataway: IEEE, 2004, s. 247-250. ISBN 0-7803-8535-7.
Počet záznamů: 1