Počet záznamů: 1
Noise in secondary electron emission: the low yield case
- 1.FRANK, L. Noise in secondary electron emission: the low yield case. Journal of Electron Microscopy. 2005, 54(4), 361-365. ISSN 0022-0744. Dostupné z: https://doi.org/10.1093/jmicro/dfi044
Počet záznamů: 1