- Noise in secondary electron emission: the low yield case
Počet záznamů: 1  

Noise in secondary electron emission: the low yield case

  1. 1.
    FRANK, L. Noise in secondary electron emission: the low yield case. Journal of Electron Microscopy. 2005, 54(4), 361-365. ISSN 0022-0744. Dostupné z: https://doi.org/10.1093/jmicro/dfi044
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.