Počet záznamů: 1
Tip-induced reduction of the resonant tunneling current on semiconductor surfaces
- 1.0315275 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Jelínek, Pavel - Švec, Martin - Pou, P. - Perez, R. - Cháb, Vladimír
Tip-induced reduction of the resonant tunneling current on semiconductor surfaces.
[Hrotem vyvolaný pokles rezonančního tunelovacího proudu na površích polovodičů.]
Physical Review Letters. Roč. 101, č. 17 (2008), 176101/1-176101/4. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA AV ČR KAN400100701; GA AV ČR IAA1010413; GA AV ČR IAA100100616
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: scaning tunneling microscopy * electron states at surfaces and interfaces * nanoscale contacts
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 7.180, rok: 2008
We report scanning tunneling microscope measurements showing a substantial decrease of the current almost to zero, on the Si(111) -(7x7) reconstruction in the near-to-contact region under low bias conditions.
Měřením skanovacím tunelovacím mikroskopem na povrchu Si(111)-(7x7) ukazujeme výrazný pokles tunelovacího proudu v oblasti blízko kontaktu a při nízkém napětí.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165525
Počet záznamů: 1