Počet záznamů: 1  

Characterization of polymeric films by ellipsometry

  1. 1.
    SYSNO ASEP0185043
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JOstatní články
    NázevCharacterization of polymeric films by ellipsometry
    Tvůrce(i) Švorčík, V. (CZ)
    Tichá, H. (CZ)
    Rybka, V. (CZ)
    Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RID
    Zdroj.dok.Journal of Materials Science Letters - ISSN 0261-8028
    Roč. 19, - (2000), s. 679-681
    Poč.str.3 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.DE - Německo
    Vědní obor RIVBG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    CEZAV0Z1048901 - UJF-V
    AnotaceThe reflection and transmission ellipsometry is used for characterization of poly(ethyleneterephtalate), polyethylene andpolystyrene thin films. The dependence of ellipsometric parameters .psí. and .DELTA. on the polarity, orientation and thickness of the film is determined. From the reflection measurement data the relative permittivity and refractive index ofpolymers is determined.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2001

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.