Počet záznamů: 1
Characterization of polymeric films by ellipsometry
- 1.
SYSNO ASEP 0185043 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Characterization of polymeric films by ellipsometry Tvůrce(i) Švorčík, V. (CZ)
Tichá, H. (CZ)
Rybka, V. (CZ)
Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RIDZdroj.dok. Journal of Materials Science Letters - ISSN 0261-8028
Roč. 19, - (2000), s. 679-681Poč.str. 3 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DE - Německo Vědní obor RIV BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače CEZ AV0Z1048901 - UJF-V Anotace The reflection and transmission ellipsometry is used for characterization of poly(ethyleneterephtalate), polyethylene andpolystyrene thin films. The dependence of ellipsometric parameters .psí. and .DELTA. on the polarity, orientation and thickness of the film is determined. From the reflection measurement data the relative permittivity and refractive index ofpolymers is determined. Pracoviště Ústav jaderné fyziky Kontakt Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228 Rok sběru 2001
Počet záznamů: 1