Počet záznamů: 1  

Determination of optical properties of PLZT thin films using transmittance spectra processing

  1. 1.
    SYSNO ASEP0134070
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevDetermination of optical properties of PLZT thin films using transmittance spectra processing
    Tvůrce(i) Pencheva, T. (BG)
    Nenkov, M. (BG)
    Jelínek, Miroslav (FZU-D) RID, ORCID
    Lančok, Ján (FZU-D) RID, ORCID
    Bulíř, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Deineka, Alexander (FZU-D)
    Xu, Ch. N. (JP)
    ISBN0-8194-4528-2
    Zdroj.dok.Advanced Laser Technologies. - Bellingham : SPIE International Society for Optical Engineering, 2002 / Dimitras D.C. ; Dinescu M. ; Konov V.I. - ISSN 0277-786X
    Rozsah strans. 181-185
    Poč.str.5 s.
    AkceALT'01 International Conference on Advanced Laser Technologies
    Datum konání11.09.2001-14.09.2001
    Místo konáníConstanta
    ZeměRO - Rumunsko
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaoptical properties ; dielectric thin films ; PLZT
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEZAV0Z1010914 - FZU-D
    AnotaceThe investigation deals with determination of optical parameters of thin PLZT films prepared by pulsed laser deposition on silica substrates at different oxygen pressure.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2003

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.