Počet záznamů: 1
Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films
- 1.
SYSNO ASEP 0133592 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films Tvůrce(i) Deineka, Alexander (FZU-D)
Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
Suchaneck, G. (DE)
Gerlach, G. (DE)Zdroj.dok. Physica Status Solidi A : Applied Research - ISSN 0031-8965
Roč. 188, č. 4 (2001), s. 1549-1552Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DE - Německo Klíč. slova PZT films ; optical investigations Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA202/00/1425 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Anotace Optical investigations of self-polarized PbZr0.235Ti0.765O3 films deposited onto Si/SiO2/adhesion layer/(111) Pt substrate by RF sputtering are presented in this work. Measurements were performed with a spectral ellipsometer working in rotating analyzer mode. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2002
Počet záznamů: 1