Počet záznamů: 1  

Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films

  1. 1.
    DEINEKA, Alexander, JASTRABÍK, Lubomír, SUCHANECK, G., GERLACH, G. Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films. Physica Status Solidi A. 2001, 188(4), 1549-1552. ISSN 0031-8965.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.