Počet záznamů: 1
Elastic electron backscattering from silicon surfaces: effect of charge-carrier concentration
SYS 0104231 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20230418205649.2 101 0-
$a eng 102 $a GB 200 1-
$a Elastic electron backscattering from silicon surfaces: effect of charge-carrier concentration 215 $a 3 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257629 $1 011 $a 0142-2421 $e 1096-9918 $1 200 1 $a Surface and Interface Analysis $v Roč. 36, - (2004), s. 809-811 $1 210 $c Wiley 541 $a Pružný odraz elektronů od povrchu křemíku: vliv koncentrace nosičů náboje $z cze 610 1-
$a elastic peak electron spectroscopy(EPES) 610 1-
$a inelastic mean free path(IMFP) 610 1-
$a elastic electron backscattering probability 610 1-
$a charge-carrier concentrations 610 1-
$a silicon 700 -1
$a Zemek $b Josef $p FZU-D $w Optical Materials $4 070 $3 cav_un_auth*0100630 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$a Jiříček $b Petr $p FZU-D $w Optical Materials $4 070 $3 cav_un_auth*0100265 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$a Lesiak $b B. $y PL $4 070 $3 cav_un_auth*0016277 701 -1
$a Jablonski $b A. $y PL $4 070 $3 cav_un_auth*0016276
Počet záznamů: 1