Počet záznamů: 1  

Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiation

  1. 1.
    0334092 - FZÚ 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Bionta, R.M. - Ryutov, D. - Soufli, R. - Bajt, S. - McKernan, M.A. - Baker, S. L. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Klinger, D. - Pelka, J. B. - Jurek, M. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Velyhan, Andriy - Krása, Josef - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Bergh, M. - Caleman, C. - Timneanu, N.
    Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiation.
    [Závislost prahu poškození anorganických materiálů ozářených XUV laserem s volnými elektrony.]
    Applied Physics Letters. Roč. 95, č. 11 (2009), 111104/1-111104/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: damage threshold * silicon carbide * boron carbide * soft X-ray free-electron laser
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.554, rok: 2009

    We exposed bulk SiC and films of SiC and B4C to single 25 fs long free-electron-laser pulses with wavelengths between 13.5 and 32 nm. The materials are candidates for x-ray free-electron laser optics. We found that the threshold for surface-damage of the bulk SiC samples exceeds the fluence required for thermal melting at all wavelengths. The damage threshold of the film sample shows a strong wavelength dependence. For wavelengths of 13.5 and 21.7 nm, the damage threshold is equal to or exceeds the melting threshold, whereas at 32 nm the damage threshold falls below the melting threshold.

    Abychom stanovili prahy radiačního poškození objemového vzorku SiC a tenkých vrstev SiC a B4C ozářili jsme je jednotlivými 25-fs pulzy záření s vlnovou délkou 13,5 a 32 nm. Zdrojem záření byl laser s volnými elektrony FLASH.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178918

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.