Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy

0328715 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Pou, P. - Ghasemi, S.A. - Jelínek, Pavel - Lenosky, T. - Goedecker, S. - Perez, R.
Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy.
[Struktura a stabilita polovodičových hrotů pro mikroskop atomárních sil.]
Nanotechnology. Roč. 20, č. 26 (2009), 264015/1-264015/10. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Grant CEP: GA AV ČR KAN400100701; GA AV ČR IAA100100905
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * first principles simulations * DFT * force spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.137, rok: 2009

Here we present a detailed and systematic study of the most common structures that can be expected at the apex of the Si tips used in experiments.

V této práci prezentujeme detailní a systematickou studii nejběžnějších struktur, které můžeme očekávat na vrcholu křemíkových hrotů používaných v experimentech.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0174960