Detecting sp.sup.2./sup. phase on diamond surfaces by atomic force microscopy phase imaging and its effects on surface conductivity

0328164 - FZÚ 2010 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Kozak, Halyna - Kromka, Alexander - Ukraintsev, Egor - Houdková, Jana - Ledinský, Martin - Vaněček, Milan - Rezek, Bohuslav
Detecting sp² phase on diamond surfaces by atomic force microscopy phase imaging and its effects on surface conductivity.
[[Detekce sp² fáze na povrchu diamantu pomoci mikroskopii atomárních sil a její vliv na povrchovou vodivost.]
Diamond and Related Materials. Roč. 18, 5-8 (2009), s. 722-725. ISSN 0925-9635. E-ISSN 1879-0062
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR KAN400100652
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: nanocrystalline diamond * surface conductivity * non-diamond phase * photolithography * XPS * AFM * SEM * Raman spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.822, rok: 2009

The effect of deposition parameters and chemical treatment on the surface conductivity of nanocrystalline diamond films was study by atomic force microscopy, XPS, SEM and Raman spectroscopy. The results indicate the decrease in sp2 amount and enhanced surface conductivity of the diamond surface after the chemical treatment.

Vliv depozičních parametrů a chemického leptání na povrchovou vodivost nanokrystalického diamantu byl studován pomocí mikroskopií atomárních sil, XPS, SEM a Ramanovy mikroskopie. Výsledky ukazují, že snížení sp2 fáze na povrchu diamantu po jeho chemickém leptání, vede ke zvýšení jeho povrchové vodivosti.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0174545