Polar phonons in some compressively stressed epitaxial and polycrystalline SrTiO.sub.3./sub. thin films

0325010 - FZÚ 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Nuzhnyy, Dmitry - Petzelt, Jan - Kamba, Stanislav - Yamada, T. - Tyunina, M. - Tagantsev, A.K. - Levoska, J. - Setter, N.
Polar phonons in some compressively stressed epitaxial and polycrystalline SrTiO₃ thin films.
[Polarní fonony v některých stlačených epitaxních a polykrystalických SrTiO₃ tenkých vrstvách.]
Journal of Electroceramics. Roč. 22, 1-3 (2009), 297-301. ISSN 1385-3449. E-ISSN 1573-8663
Grant CEP: GA AV ČR KJB100100704; GA MŠMT OC 101
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: soft mode * thin film * infrared spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.012, rok: 2009

The infrared spectroscopy (both in transmission as well as reflection mode) was used for quantitative determination of the dielectric response of polar phonon modes in compressively stressed epitaxial and polycrystalline SrTiO3 thin films down to the thickness of the order of several tens nm. Compressed epitaxial SrTiO3 films show appreciably stiffened polar mode frequencies resulting in reduced static permittivity. In polycrystalline thin films the soft mode response is much broader than in epitaxial films, due to the grain boundaries and other in-plane inhomogeneities.

Infračervená spektroskopie (v transmisním a reflexním režimu) byla použita pro kvantitativní určení dielektrické odezvy polárních fononových módu ve stlačených epitaxních a polykrystalických SrTiO3 tenkých vrstvách do tlouštky několika desítek nm. Stlačené epitaxní SrTiO3 vrstvy ukazují vyšší frekvence polárních fononů, které jsou zodpovědné za nižší permitivitu v rovině těchto vrstev. V polykrystalických tenkých vrstvách je měkký mód výrazně širší než v epitaxních vrstvách v důsledku vlivu hranic zrn a jiných nehomogenit.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0172574