Počet záznamů: 1  

Classical Monte-Carlo simulations of X-ray-induced electron cascades in various materials

  1. 1.
    0487424 - FZÚ 2018 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lipp, V. - Medvedev, Nikita - Ziaja, B.
    Classical Monte-Carlo simulations of X-ray-induced electron cascades in various materials.
    Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics VI. Bellingham: SPIE, 2017 - (Juha, L.; Bajt, S.; Soufli, R.), s. 1-9, č. článku 10236. Proceedings of SPIE, 10236. ISBN 978-1-5106-0974-7. ISSN 0277-786X.
    [Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics VI. Prague (CZ), 24.04.2017-27.04.2017]
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: transferable tight binding * silicon * free-electron laser * XTANT
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)

    An analysis of influence of model parameters on the results of simulations of material properties under free-electron laser irradiation is presented. It is based on the in-house hybrid code XTANT (X-ray-induced Thermal And Nonthermal Transition) by N. Medvedev et al., Phys. Rev. B 91 (2015) 054113. It combines tight binding molecular dynamics for atoms with Monte Carlo treatment of high-energy electrons and core-holes, and Boltzmann collision integrals for nonadiabatic (electron-phonon) coupling. Different parameterizations of transferable tight binding method for silicon are analyzed.

    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0282087

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.