Počet záznamů: 1  

SMV-2016-20: Výpočty detekčních systémů rastrovacích elektronových mikroskopů

  1. 1.
    0468459 - ÚPT 2017 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Rozbořil, Jakub
    SMV-2016-20: Výpočty detekčních systémů rastrovacích elektronových mikroskopů.
    [SMV-2016-20: Simulation of detection systems of scanning electron microscopes.]
    Brno: FEI Czech Republic, s.r.o., 2016. 10 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: electron optics * electron microscopy * contrast optimization
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

    V rámci smluvního výzkumu byly analyzovány detekční systémy několika rastrovacích elektronových mikroskopů z portfolia FEI Czech Republic, pro velké množství nastavení systému. Cílem bylo jednak zmapovat detekční mechanizmy, ale také nalézt optimální nastavení systému pro detekci zvolené části spektra signálních elektronů, tak aby se maximalizoval materiálový, nebo topografický kontrast.

    The analysis of the detection system of scanning electron microscopes produced by FEI Czech Republic was done for many setting of the electron optical system. The main goal was to analyze the detection mechanisms and to find optimal system setting for detection of the given part of signal electron spectrum. It is used for maximization of the material or topographical contrast.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0266308

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.