Počet záznamů: 1  

Noncontact Atomic Force Microscopy

  1. 1.
    0456646 - FZÚ 2016 RIV CH eng M - Část monografie knihy
    Hapala, Prokop - Ondráček, Martin - Stetsovych, Oleksandr - Švec, Martin - Jelínek, Pavel
    Simultaneous nc-AFM/STM measurements with atomic resolution.
    Noncontact Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015 - (Morita, S.; Giessibl, F.; Meyer, E.; Wiesendanger, R.), s. 29-49. NanoScience and Technology, 3. ISBN 978-3-319-15587-6
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: AFM * STM * DFT simulations * electron transport * atomic contrast
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

    We discuss the history and recent progress of simultaneous AFM/STM measurements with atomic resolution. We demonstrate, that the technique can provide complex information about chemical and physical processes at atomic scale as well as about material properties of surfaces and nanostructures. We briefly overview one of the most fascinating achievements, high-resolution imaging with functionalized tips.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0257148

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.