Počet záznamů: 1  

Využití Fourierovy transformace při obrazové analýze mikrofotografií

  1. 1.
    0445326 - ÚMCH 2016 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Šlouf, Miroslav - Vacková, Taťana
    Využití Fourierovy transformace při obrazové analýze mikrofotografií.
    [Application of Fourier transformation in image analysis of microphotographs.]
    Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Roč. 22, č. 2 (2015), s. 91-94. ISSN 1211-5894
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA ČR(CZ) GA14-17921S
    Institucionální podpora: RVO:61389013
    Klíčová slova: Fourier transform * microscopy * image analysis
    Kód oboru RIV: JJ - Ostatní materiály
    http://www.xray.cz/ms/bul2015-2.htm

    Fourierova transformace (FT) je jedním z pokročilých nástrojů, které lze využít při obrazové analýze mikro - fotografií, neboli při „převodu obrázků na čísla“. V tomto příspěvku velmi stručně shrnujeme teorii FT, která souvisí se zpracováním mikrofotografií. Přitom se soustředíme na metody výpočtu a interpretace FT pro čtyři nejčastější případy v této oblasti: (i) jednorozměrnou diskrétní rychlou FT (1D-DFFT) čárových profilů intenzit, (ii) dvou rozměrnou diskrétní rychlou FT (2D-DFFT) vybraných ploch, a převod vypočtených 2D-DFFT na (iii) 1D radiální profily na (iv) 1D azimutální profily. Na příkladech demonstrujeme, jak může FT pomoci zviditelnit periodické vzdálenosti a symetrii v mikro- a nanostruktuře různých polymerních i nepolymerních materiálů.

    Fourier transform (FT) is one of advanced tools for image analysis of micrographs. In this contribution, we briefly summarize FT theory associated with image analysis. Then we focus on a fast and easy calculation and interpretation of (i) one-dimensional discrete fast FT (1D-DFFT) of line intensity pro files, (ii) two-dimensional discrete fast FT (2D-DFFT) of selected image areas and transformation of 2D-DFFT images to (iii) 1D radial profiles and (iv) 1D azimuthal profiles. On typical examples, we show how FT analysis reveals periodicity and symmetry of micro- and nanostructured materials.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0248141

     
     
Počet záznamů: 1