Řídící SW pro polohování při ozařování na externím svazku

0399683 - ÚJF 2014 RIV CZ cze L4 - Software
Vitner, Jan
Řídící SW pro polohování při ozařování na externím svazku.
[Software for the positioning during the irradiation on the external beam.]
Interní kód: PIXEM-F1 ; 2013
Technické parametry: SW je přenositelný na podobné zařízení, použití SW je pro experimenty dalších subjektů
Ekonomické parametry: Nové možnosti metod ozařování
Grant CEP: GA ČR(CZ) GBP108/12/G108; GA MŠMT(XE) LM2011019
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: precise radiation * precise positioning
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
http://neutron.ujf.cas.cz/cs/lnam/item/135-publication

SW je vytvořen pro přesné polohování vzorků vystaveným svazku vysokoenergetických iontů, který je vyveden z vakua. V externích podmínkách jsou vysokoenergetickými ionty ozařovány vzorky, které nemohou být umístěny do vakua. SW ovládá elektrickými motory poháněné polohovací zařízení ve dvou různých na sebe kolmých osách. Pomocí přesného polohování s přesností na 0,001 mm , lze dosáhnout rovnoměrného ozáření libovolné plochy (v rozsahu až několik cm2) energetickými ionty např. živých buněk pro studium vlivu energetických iontů na živé tkáně. Současně software obsahuje definované přesné matematické řízení ozařování svazkem iontů maximální velikosti 1 mm2 tak, aby byl vzorek ozářen rovnoměrně. SW rovněž umožňuje stanovit plochu pro ozařování, fluenci iontů na jednotku plochy i pro extrémně nízké fluence 104 iontů/cm-2.

SW is used for precise positioning of samples exposed to the ion beam radiation in the ambient atmpsphere. There is a positioning device driven by two electromotors, which are controlled by the developed SW. SW allows us to control the positioning device in precision about 0,001 mm in two axis, thus the areal scanning is available. Thus we are able to irradiate the samples, which can not be placed in vacuum conditions (e.g. living cells), with the defined mathematical procedure to cover the requested irradiation area homogeneously by ion beam with maximum beam spot 1 mm2 . We can choose the size of the area exposed to the radiation, to choose the quantity of the radiation (ion fluence) and to achieve uniform radiation of the sample with very low fluencies 104 iontů/cm-2.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0226903