Počet záznamů: 1
Experimental determination of the electron elastic backscattering probability and the surface excitation parameter for Si, Ni, Cu, and Ag at 0.5 and 1 KeV
- 1.0375695 - FZÚ 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Gergely, G. - Gurban, S. - Menyhard, M. - Jablonski, A. - Zemek, Josef - Goto, K.
Experimental determination of the electron elastic backscattering probability and the surface excitation parameter for Si, Ni, Cu, and Ag at 0.5 and 1 KeV.
Surface and Interface Analysis. Roč. 43, č. 11 (2011), s. 1365-1370. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR GA202/09/0428
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: backscattering probability * SEP * EPES * AREPES * AES * XPS
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.180, rok: 2011
Electron elastic probability and surface excitaion parameter were estimated for Si, Ni, Cu, and Ag clean surfaces.Electron spectra are generally presented in arbitrary units.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208283
Počet záznamů: 1