Damage thresholds of various materials irradiated by 100-ps pulses of 21.2-nm laser radiation

0335777 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hájková, Věra - Chalupský, Jaromír - Wabnitz, H. - Feldhaus, J. - Störmer, M. - Hecquet, Ch. - Mocek, Tomáš - Kozlová, Michaela - Polan, Jiří - Homer, Pavel - Rus, Bedřich - Juha, Libor
Damage thresholds of various materials irradiated by 100-ps pulses of 21.2-nm laser radiation.
[Prahy poškození různých materiálů ozářených 100-ps pulzy laserového záření o vlnové délce 21,2 nm.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736110/1-736110/6. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Grant ostatní: LASERLAB-EUROPE(XE) RII3-CT-2003-506350
Program: FP6
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: soft x-ray laser * damage to x-ray optics * laser ablation * damage thresholds * single-shot damage
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822950

Irradiation experiments were conducted at Prague Asterix Laser System (PALS) with the Ne-like zinc soft x-ray laser (SXRL) at 21.2 nm (58.5 eV) delivering up to 4 mJ (~4 x 1014 photons), 100-ps pulses in a narrowly collimated beam. The thresholds determined with the 100-ps pulses from the plasma-based, quasi-steady state SXRL are significantly higher than the thresholds obtained for 20-fs pulses provided by the SXR free-electron laser in Hamburg. There is a difference in PMMA thresholds of two orders of magnitude for these two sources.

Na zařízení Prague Asterix Laser System (PALS) jsme ozářili řadu různých materiálů pomocí fokusovaného svazku rentgenového laseru (SXRL) na neonu-podobných iontech zinku při 21,2 nm (58,5 eV) ve 100-ps pulzech obsahujících 4 mJ (~4 x 1014 fotonů). Stanovili jsme prahy poškození technicky a vědecky významných materiálů jedním impulzem SXRL. Získané hodnoty byly porovnány s výsledky dosaženými se 100-fs impulzy generovanými laserem s volnými elektrony FLASH na stejné vlnové délce.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180148