XPS and XAES of polyethylenes aided by line shape analysis: The effct of electron irradiation

0331835 - FZÚ 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Zemek, Josef - Houdková, Jana - Jiříček, Petr - Jozwik, A.
XPS and XAES of polyethylenes aided by line shape analysis: The effct of electron irradiation.
[Analýza tvaru XPS a XAES spekter polyetylénů: Vliv ozáření elektrony.]
Polymer Degradation and Stability. Roč. 94, č. 10 (2009), s. 1714-1721. ISSN 0141-3910. E-ISSN 1873-2321
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: XPS * XAES * line shape analysis * electron beam degradation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.154, rok: 2009

We have studied different polyethylene surfaces by XPS and XAES and line shape analysis under electron irradiation.

Byly studovány různé povrchy polyetylénů postupně ozařované elektrony metodami XPS a XAES a analýzou tvaru spekter.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0177246