Evaluation of substructure parameters by peak profile analysis of high-resolution neutron diffraction spectra

0329213 - ÚJF 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Lukáš, Petr - Strunz, Pavel - Davydov, Vadim - Kuzel, R.
Evaluation of substructure parameters by peak profile analysis of high-resolution neutron diffraction spectra.
[Vyhodnocení parametrů substruktury analýzou profilu vrcholu spektra neutronové difrakce s vysokým rozlišením.]
Powder Diffraction. Roč. 24, č. 2 (2009), S26-S30. ISSN 0885-7156. E-ISSN 1945-7413
Grant CEP: GA AV ČR IAA100480704
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
Klíčová slova: neutron diffraction * X-ray diffraction * profile analysis
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 0.512, rok: 2009

The peak profile shape analysis has been preferentially used in the evaluation of X-ray and synchrotron powder diffraction pattern. However, neutron diffraction facilities of new generation frequently offer the instrumental resolution high enough to efficiently study the effects of broadening of neutron diffraction profiles. The present paper describes the procedure for a detailed evaluation of Bragg peak shape based on the method of transformed model fitting (TMF) which has been recently developed particularly for the treatment of neutron diffraction profiles. Microstructure modeling is performed in the reciprocal space and the convolution of the model with the instrumental resolution curve is fitted to the profiles recorded in the diffraction experiment.

Analýza tvaru profilu vrcholu byla přednostně použita při hodnocení difrakce paprsků X a synchrotronového záření na prášku. Zařízení neutronové difrakce nové generace často nabízejí instrumentální rozlišení dostatečně vysoké k účinému zkoumání vlivů rozšíření profilů neutronové difrakce. Tato práce popisuje postup pro podrobné hodnocení tvaru Braggova vrcholu založený na metodě modelu transformovaných fitů (TMF), který byl nedávno vyvinut zejména pro zpracování profilů neutronové difrakce. Modelování mikrostruktury se provádí v recipročním prostoru a konvoluce modelu s instrumentální křivkou rozlišení je fitována na profily zaznamenané v difrakčním experimentu.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0005440