Počet záznamů: 1  

Interferometric Displacement Measurement for Local Probe Microscopy

  1. 1.
    0325114 - ÚPT 2009 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Šerý, Mojmír
    Interferometric Displacement Measurement for Local Probe Microscopy.
    [Interferometrické měření polohy pro mikroskopii s lokální sondou.]
    tm-Technisches Messen. Roč. 76, č. 5 (2009), s. 253-258. ISSN 0171-8096
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR IAA200650504; GA AV ČR KAN311610701; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/07/1179; GA MŠMT 2C06012
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: Interferometry * local probe microscopy * nanometrology
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 0.321, rok: 2009

    In the contribution we present an interferometric displacement monitoring system for positioning of a sample stage for local probe microscopy. The arrangement is designed for metrology applications with direct link to fundamental etalon of length and monitoring of all six axes of freedom of motion. Active position of control is proposed.

    V příspěvku prezentujeme interferometrický monitorovací systém polohy pro odměřování a polohování vzorku pro mikroskopii s lokální sondou. Uspořádání je navrženo pro metrologické aplikace s přímou návazností na základní etalon délky a monitorování ve všech šesti osách volnosti. Je navrženo aktivní řízení polohy.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0172639

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.