Počet záznamů: 1  

SHIM and TPEM: Getting More Information from Non Linear Excitation

  1. 1.
    0313399 - FGÚ 2009 ES eng A - Abstrakt
    Bianchini, P. - Vicidomini, G. - Mondal, P. P. - Ramoino, P. - Usai, C. - Janáček, Jiří - Kubínová, Lucie - Diaspro, A.
    SHIM and TPEM: Getting More Information from Non Linear Excitation.
    [SHIM a TPFM: více informace z nelineární excitace.]
    Focus on Microscopy. Valencia: University of Valencia, 2007. s. 136-136.
    [Focus on Microscopy FOM 2007. 10.04.2007-13.04.2007, Valencia]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z50110509
    Klíčová slova: spr2 * SHIM * SHG * TPEF
    Kód oboru RIV: EA - Morfologické obory a cytologie

    Second Harmonic Imaging Microscopy with Two Photon Excitation Microscopy enables visualization of different biological samples without extra labelling

    SHIM s TPEM umožňuje zobrazení různých biologických struktur bez dalšího značení vzorku
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0164229

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.