0312418 - FZÚ 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Olejník, Kamil - Klapetek, P.
Photoelectron spectroscopy from randomly corrugated surfaces.
[Fotoelektronová spektroskopie náhodně drsných povrchů.]
Surface Science. Roč. 602, č. 7 (2008), s. 1440-1446. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: x-ray photoelectron spectroscopy * surface roughness * random surface roughness * AFM * Monte-Carlo calculation * overlayer thickness estimation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.731, rok: 2008 ; AIS: 0.646, rok: 2008
DOI: https://doi.org/10.1016/j.susc.2008.02.006

The influence of random surface roughness on photoelectron intensities has been investigated by angular-resolved photoelectron spectroscopy an advenced calculations.

Vliv náhodné povrchové drsnosti na intenzitu fotoelektronových línií je studován úhhově rozlišenou fotoemisí a pokročilými výpočty.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0163489