Počet záznamů: 1  

Near-field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces

  1. 1.
    0307535 - ÚFM 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Klapetek, P. - Buršík, Jiří
    Near-field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces.
    [Studium povrchů tenkých vrstev a rozhraní pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli.]
    Applied Surface Science. Roč. 254, č. 12 (2008), s. 3681-3684. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/0607
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
    Klíčová slova: NSOM * FDTD * image artifacs
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    Impakt faktor: 1.576, rok: 2008

    In this article, the results of the modeling of topography related artifacts appearing in near-field scanning optical microscopy measurements are presented. The results obtained for near-field scanning optical microscope are compared with experimental results. It is shown that the chosen numerical method - Finite Difference in Time Domain method(FDTD)-can be used for efficient modeling of main topography related artifact.

    V tomto článku prezentujeme výsledky modelování topografie artefaktů v optické rastrovací mikroskopii v blízkém poli. Výsledky získané rastrováním v blízkém poli optického mikroskopu jsme porovnávali s experimentálními výsledky. Ukazuje se, že vybranou numerickou metodu FDTD lze použít pro efektivní mapování artefaktů.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004594

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.