0205563 - UPT-D 20020113 RIV CZ cze B - Monografie kniha jako celek
Frank, Luděk (ed.) - Král, J.
Medoty analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody.
[Methods of surface analysis. Ion, probe and special methods.]
Praha: Academia, 2002. 485 s.
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: electron microscopy * photo-electron spectroscopy * Auger phenomena
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Touto knihou ke čtenářům přichází třetí díl řady "Metody analýzy povrchů". První díl - Elektronová spektroskopie - přinesl, vedle informací o související přístrojové technice a metodách zpracování výsledků, kapitoly o fotoelektronových spektroskopiích (UPS a XPS), analytické aplikaci Augenova jevu (AES), spektroskopii prahových potenciálů (APS), o spektroskopii vzdálené jemné struktury rentgenové absorpce (EXAFS) a rentgenové absorbce v blízkosti absorpční hrany (XANS) a kapitolu o autoemisní elektronové spektroskopii. Druhý díl pak byl věnován fyzikálním základům, technice a aplikacím elektronové mikroskopie, mikroskopii na bázi tunelového jevu, matematickým základům teorie difrakce, základům a experimentální realizaci difrakce pomalých elektronů (LEED) a difrakci rychlých elektronů na odraz (RHEED). Tento třetí díl navazuje na oba předcházející a přináší informace o základech techniky a metod analytických aplikací iontových svazků i o metodách využívajících rastrující lokální sondu.

The book is third from a series called 'Methods of surface analysis'. Itsfirst part ů 'Electron microscopy' has presented chapters about photo-electron spectroscopy (UPS and XPS), analytic application of Auger phenomena (AES), spectroscopy of threshold potentials (APS), spectroscopy of remote fine structure of x-ray absorption (EXAFS) and x-ray absorption the absorption edge (XANES) and a chapter about field-emission electron spectroscopy. The second part is devoted to physical basis, technique and applicationsof electron microscopy, microscopy of tunnel phenomena, mathematical basis of diffraction theory, to basis and experimental realization of diffraction of slow electrons (LEED) and diffraction of quick electrons to reflection (RHEED). The third part brings information about basis of the technique and methods of analytical application of ion beams as well as methods exploiting scanning local probe and its applications.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101176