Počet záznamů: 1  

Simplified 2-D model of current filamentation in low temperature breakdown regime of semiconductors

  1. 1.
    0195260 - UE-C 960029 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
    Novák, Vít - Hirschinger, J. - Eberle, W. - Wimmer, Ch. - Prettl, W.
    Simplified 2-D model of current filamentation in low temperature breakdown regime of semiconductors.
    Acta Technica CSAV. Roč. 41, č. 5 (1996), s. 553-567. ISSN 0001-7043
    Grant CEP: GA ČR GA202/96/0254
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0090926

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.