Počet záznamů: 1  

Analysis of the surface technology of silicon detectors for imaging of low-energy beta tracers in biological material

  1. 1.
    0193697 - UOCHB-X 20000047 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Tykva, Richard
    Analysis of the surface technology of silicon detectors for imaging of low-energy beta tracers in biological material.
    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 448, - (2000), s. 576-580. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
    Grant CEP: GA ČR GA203/98/0741; GA ČR GA526/98/1147
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4055905
    Kód oboru RIV: CC - Organická chemie
    Impakt faktor: 0.964, rok: 2000

    Original diagnostic procedure, is described to trace the behaviors of different admixtures as in the etching bath as in the water used during development of the detector surface.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0089392

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.