Počet záznamů: 1  

Characterization of polymeric films by ellipsometry

  1. 1.
    0185043 - UJF-V 20000213 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Švorčík, V. - Tichá, H. - Rybka, V. - Hnatowicz, Vladimír
    Characterization of polymeric films by ellipsometry.
    Journal of Materials Science Letters. Roč. 19, - (2000), s. 679-681. ISSN 0261-8028
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901
    Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    Impakt faktor: 0.496, rok: 2000

    The reflection and transmission ellipsometry is used for characterization of poly(ethyleneterephtalate), polyethylene andpolystyrene thin films. The dependence of ellipsometric parameters .psí. and .DELTA. on the polarity, orientation and thickness of the film is determined. From the reflection measurement data the relative permittivity and refractive index ofpolymers is determined.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0081465

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.