0184343 - UJF-V 980127 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Vacík, Jiří - Červená, Jarmila - Hnatowicz, Vladimír - Švorčík, V. - Kobayashi, Y. - Fink, D. - Klett, R.
Damage profile examination on ion irradiated PEEK by .SUP.6 Li doping and neutron depth profiling technique.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 141, - (1998), s. 216-222. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
Grant CEP: GA ČR GA202/96/0077; GA AV ČR KSK1010601
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 1.093, rok: 1998
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0080783