Počet záznamů: 1
Defect Formation in the Dual B and N Ions Implanted Silicon
- 1.0183435 - UJF-V 940107 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Popok, V. - Odzhajev, V. - Hnatowicz, Vladimír - Kvítek, Jiří - Švorčík, V. - Rybka, V.
Defect Formation in the Dual B and N Ions Implanted Silicon.
Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 44, č. 10 (1994), s. 949-956. ISSN 0011-4626
Impakt faktor: 0.330, rok: 1994
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0001963
Počet záznamů: 1