0134070 - FZU-D 20020359 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pencheva, T. - Nenkov, M. - Jelínek, Miroslav - Lančok, Ján - Bulíř, Jiří - Deineka, Alexander - Xu, Ch. N.
Determination of optical properties of PLZT thin films using transmittance spectra processing.
0-8194-4528-2. In: Advanced Laser Technologies. Bellingham: SPIE International Society for Optical Engineering, 2002 - (Dimitras, D.; Dinescu, M.; Konov, V.), s. 181-185. Proceedings of SPIE., 4762. ISSN 0277-786X.
[ALT'01 International Conference on Advanced Laser Technologies. Constanta (RO), 11.09.2001-14.09.2001]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: optical properties * dielectric thin films * PLZT
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

The investigation deals with determination of optical parameters of thin PLZT films prepared by pulsed laser deposition on silica substrates at different oxygen pressure.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032007