Počet záznamů: 1  

Influence of combined AFM/current measurement on local electronic properties of silicon thin films

  1. 1.
    0134048 - FZU-D 20020336 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Rezek, Bohuslav - Mates, Tomáš - Šípek, Emil - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
    Influence of combined AFM/current measurement on local electronic properties of silicon thin films.
    Journal of Non-Crystalline Solids. 299-302, - (2002), s. 360-364. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
    Klíčová slova: silicon thin films * electronic properties * combined AFM/current measurement
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.435, rok: 2002

    Combined AFM/current measurement leads to a modification of local electronic properties detected as a significant decrease in local current.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031989

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.