0133747 - FZU-D 20020128 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Pavlíček, Pavel
Měření výškového profilu předmětu pomocí interferometrie v bílém světle.
[Surface profile measurement by means of white light interferometry.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 47, č. 3 (2002), s. 83-85. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: interferometry * white light * interferometer * height profile * rough surface
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery

V článku je představena interferometrie v bílem světle jako metoda vhodná pro měření na drsném povrchu. Tím je možné pomocí této metody měřit topologii předmětů, jejichž povrch je opracován běžnými technologiemi.

White light interferometry is a suitable method for measurement on rough surface. This method enables to measure the topology of objects their surface is machined using convetional machine tool.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031708