Počet záznamů: 1  

Ellipsometry and LIMM investigations of the interaction between PZT thin films and platinum electrodes and air

  1. 1.
    0133423 - FZU-D 20010275 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Deineka, Alexander - Glinchuk, M. D. - Jastrabík, Lubomír - Suchaneck, G. - Sandner, T. - Gerlach, G.
    Ellipsometry and LIMM investigations of the interaction between PZT thin films and platinum electrodes and air.
    Ferroelectrics. Roč. 254, - (2001), s. 205-211. ISSN 0015-0193. E-ISSN 1563-5112
    Grant CEP: GA ČR GA202/00/1425
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
    Klíčová slova: ferroelecric film * depth profile * interface interaction
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 0.471, rok: 2001

    In this work we present new results of investigation of PbZr0.235Ti0.765O3 (PTZ) films deposited onto Si/SiO2/adhesion layer/(111) Pt substrate by RF sputtering. Optical constants of PZT films, refraction index depth profile and polarization profile were determined.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031392

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.