0132899 - FZU-D 20000154 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Slezák, Jiří - Ondřejček, Michal - Chvoj, Zdeněk - Cháb, Vladimír - Conrad, H. - Heun, S. - Schmidt, T. - Ressel, B. - Prince, K. C.
Surface diffusion of AU on Si(111): a microscopy study.
Physical Review. B. Roč. 61, č. 23 (2000), s. 16121-16128. ISSN 1098-0121. E-ISSN 2469-9969
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010718; GA ČR GA202/99/P001
Grant ostatní: Deutsche forschunggemeinschaft(DE) SFB 290; ERB(XE) FMBI-CT:96/1749; XE(XC) ERBIC 15 CT97 0700
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.065, rok: 2000

The direct evolution of submonolayer two-dimensional Au phases on the Si(111)-(7X7) surface was studed in real time using the spectroscopic photoemission and low energy electron microscope located at the synchrotron radiation source ELETTRA.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030894